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硅片怎样稳定检测,看看倍加福高效检测方案

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-06-22  来源:倍加福  浏览次数:2
核心提示:太阳能以其无污染、可持续、总量大、分布广等优点颇受青睐。不止是建筑用,从光伏与农业的结合到3C产品,太阳能的利用已深入到日

太阳能以其无污染、可持续、总量大、分布广等优点颇受青睐。不止是建筑用,从光伏与农业的结合到3C产品,太阳能的利用已深入到日常生活的方方面面,而保障太阳能的完美应用,光伏材料——硅片是源头。一方面,硅片的内部缺陷和杂质会直接影响电池的效率和稳定性,另一方面,硅片的外观缺陷和表面质量对电池的制造和外观也有直接的影响。


 

 

从硅矿石的提炼到硅片的生产以及电池片的加工运输过程,如何实现并确保硅片的完整性?检测设备如何精准、高效地测出坏损?倍加福给你答案!


 

加快检测过程的响应时间

倍加福扁平型光电R2F/R3F具有Powerbeam清晰红光和Durabeam激光两种可选光源,红光漫反射0.5ms和激光漫反射0.25ms的快速响应时间大大提高了设备的运行速率,保证了客户的高产能需求。


稳定检测硅片

硅片的检测从光伏产业上游贯穿到中游,在各种硅片自动化设备中都显得非常重要,尤其是硅片经化学处理(如清洗、扩散、蚀刻等)后其反射率会有较大的改变。倍加福扁平式光电R2F/R3F具有极佳的背景抑制功能,在检测过程中几乎不受硅片的反射率影响,保证了硅片检测的可靠性。


提高定位精度

新型激光技术DuraBeam Laser也使得R2F/R3F成为市场上最为扁平的激光产品。DuraBeam激光是充分结合了LED光源和激光传感器的优点,具有更长的使用寿命。与传统激光相比,DuraBeam激光光斑小而且呈现圆形,这对于硅片的定位检测来说具有两大优势:一,对传感器安装方位无要求;二,小光点提高了定位的精度要求。


我们的优势!

  • R2R3系列产品完善,为多样化的应用需求提供完美的解决方案
  • 创新的DuraBeam激光技术,提高产品的耐用性,适合用在较宽的温度范围
  • 背景抑制型漫反射传感器,能可靠地检测目标物,屏蔽背景
  • 反射板型传感器,通过降低接线成本,高性价比,可有效替换对射型产品
  • 防静电耐刮擦镜片,保证了产品的耐用性,并不受偶尔碰撞的影响,防止灰尘吸附
 
 
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